評(píng)估超導(dǎo)限流裝置薄膜的導(dǎo)熱性技術(shù)
薄膜熱穿透率為 1770 Jm-2s-0.5K-1獲取的值。 這是體透熱率1420~2200 Jm-2s-0.5K-1評(píng)估為等效。
我們可視化了由于絕緣層而導(dǎo)致的散熱減少。 通過(guò)熱滲透率的分布圖像一目了然。
樣品形狀具有高自由度，允許您規(guī)定測(cè)量點(diǎn)。 可以測(cè)量從有機(jī)薄膜到鉆石的廣泛范圍的熱擴(kuò)散率（熱導(dǎo)率）。 可以測(cè)量水平和垂直方向，因此您可以檢查樣品的各向異性。
它是一種多功能和高性能的設(shè)備，超越了傳統(tǒng)的“穩(wěn)態(tài)"熱導(dǎo)率測(cè)量設(shè)備。 使用傳統(tǒng)設(shè)備需要數(shù)小時(shí)的測(cè)量時(shí)間減少到10~20分鐘。 此外，還提供兩種測(cè)量模式：“恒定負(fù)載模式"和“恒定厚度模式"，以對(duì)樣品加壓。 它可以應(yīng)用于軟材料，如TIM。
可以掌握碳纖維增強(qiáng)塑料（CFRP），玻璃纖維增強(qiáng)塑料（GFRP），納米纖維素等的內(nèi)部纖維狀態(tài)（纖維取向和纖維量的相對(duì)比較）。 此外，由于它可以量化和量化，因此可用于開(kāi)發(fā)過(guò)程中的評(píng)估和質(zhì)量控制。
透熱性由點(diǎn)、線(xiàn)和表面測(cè)量。
可以非接觸式測(cè)量“納米薄膜"和“微米區(qū)域"，這是傳統(tǒng)熱物理性能測(cè)量設(shè)備難以實(shí)現(xiàn)的。 此外，對(duì)于熱物理特性的分布測(cè)量，可以進(jìn)行微米量級(jí)的測(cè)量。 測(cè)量目標(biāo)范圍從薄膜到散裝材料。
針對(duì)電子設(shè)備的功耗問(wèn)題，我們通過(guò)可視化器件內(nèi)部熱特性的相對(duì)數(shù)值來(lái)評(píng)估界面的熱擴(kuò)散率。 配備高性能紅外攝像機(jī)。 降噪技術(shù)。 它可用于評(píng)估裂紋空隙。
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