日本denshigiken EMI電磁干擾定位器ES-300V
EMI定位器“ ES-300V"可以快速捕獲由靜電放電等引起的瞬態(tài)高頻尖峰噪聲,并且可以與靜電測試儀結(jié)合使用以進(jìn)行電子設(shè)備的靜電對策和研究,以及通過靜電放電預(yù)防事故的研究。幫助。此外,由于ES-300V可以檢測到沿傳播路徑感應(yīng)/輻射高頻尖峰噪聲的情況,因此可以與高頻噪聲模擬器結(jié)合使用,以研究,研究和測量電源線的噪聲。它可以用來檢查。
ES-300V在使用過程中不會干擾周圍的電磁環(huán)境,因?yàn)樗请姵毓╇姷模⑶医Y(jié)構(gòu)緊湊,重量輕(包括約100g的電池)。
日本denshigiken EMI電磁干擾定位器ES-300V
規(guī)格 |
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靈敏度等級 (天線輸入端子) | HI: 120mV LO:3.5mV | 顯示保持時(shí)間 | 自動:1秒 手動:重置開關(guān) | |
天線 | 單極天線 元件長度25mm | 電源 | 鋰電池(1個) CR8 / LHC | |
顯示 | LED:HI / LO 2級 蜂鳴器:短音/長音 | 動力壽命 | 連續(xù)約100小時(shí) |
采用 |
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作為高靈敏度的尖峰噪聲傳感器
?尋找高頻噪聲的侵入途徑。
?判斷外殼結(jié)構(gòu),屏蔽,噪聲濾波器等的效果。
?電子設(shè)備中的噪聲分布調(diào)查和現(xiàn)場調(diào)查。
作為靜電放電檢測器
?半導(dǎo)體收納盒和收納袋的防靜電效果的簡單判斷。
?確定電子設(shè)備是否由于靜電放電的影響而發(fā)生故障。
-半導(dǎo)體,電子設(shè)備和零件,各種粉末的制造過程以及工廠的靜電控制。
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