日本進(jìn)口kett電磁膜厚計
測量方式 | 電磁感應(yīng)式 |
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測量目標(biāo) | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
測量范圍 | 0-1500μm或60.00密耳 |
測量精度 | 小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2% |
解析度 | 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm |
符合標(biāo)準(zhǔn) | JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376 |
統(tǒng)計功能 | 測量次數(shù),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,大值,小值,程序段號 |
探測 | 單點接觸恒壓型(LEP-J) |
顯示方式 | 數(shù)字(LCD,小顯示位數(shù)0.1μm) |
外部輸出 | RS-232C接口(傳輸速度2400bps) |
電源供應(yīng) | AC100V(50 / 60Hz)或電池1.5V(AA堿性)主機(jī)x 6,打印機(jī)x 4 |
尺寸/質(zhì)量 | 120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤 |
配件 | 標(biāo)準(zhǔn)板,鐵座,標(biāo)準(zhǔn)板盒,電池1.5V(AA堿性),AC適配器,探針適配器,打印機(jī)紙,手提箱 |
選項 | L型探頭(LEP-21L),RS-232C連接電纜,數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp” |
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計
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