日本napson手持式薄層電阻計
•*1臺可以更換和使用兩種類型的探頭(無損型和接觸型)的便捷型薄層電阻測量裝置 •
只需放置/使用探頭即可自動進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時間:24小時(*電池)使用時)
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量:多100(*從醉新數(shù)據(jù)顯示)
•保存的數(shù)據(jù)數(shù)量:多50,000(*軟件顯示)
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
•顯示:3種類型的顯示單位(Ω/□,S /□,n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]), 4位浮點少數(shù)點(0.000至9999)
*我們僅出售主體+非破壞性探頭,并且僅出售主體+接觸探頭。
測量目標(biāo)
薄膜,玻璃,紙材料等
通常,可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低電子玻璃
•碳納米管,石墨烯材料
•金屬材料(納米線,網(wǎng)格,網(wǎng)眼)
•其他
測量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測量
(*大于每個探頭的測量點尺寸)
<測量點>
?無損探棒(渦電流型):φ25mm
?接觸式探頭(4種探頭類型):9毫米
測量范圍
?無損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒(4探法):0.1 -4000Ω/ sq
•*1臺可以更換和使用兩種類型的探頭(無損型和接觸型)的便捷型薄層電阻測量裝置 •
只需放置/使用探頭即可自動進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時間:24小時(*電池)使用時)
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量:多100(*從醉新數(shù)據(jù)顯示)
•保存的數(shù)據(jù)數(shù)量:多50,000(*軟件顯示)
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
•顯示:3種類型的顯示單位(Ω/□,S /□,n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]), 4位浮點少數(shù)點(0.000至9999)
*我們僅出售主體+非破壞性探頭,并且僅出售主體+接觸探頭。
測量目標(biāo)
薄膜,玻璃,紙材料等
通常,可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低電子玻璃
•碳納米管,石墨烯材料
•金屬材料(納米線,網(wǎng)格,網(wǎng)眼)
•其他
測量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測量
(*大于每個探頭的測量點尺寸)
<測量點>
?無損探棒(渦電流型):φ25mm
?接觸式探頭(4種探頭類型):9毫米
測量范圍
?無損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒(4探法):0.1 -4000Ω/ sq
日本napson手持式薄層電阻計
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